viernes, enero 12, 2007

Patentometria

No es muy usual encontrar el término Patentometría en la literatura, por lo general los autores se refieren simplemente a estudios bibliométricos usando indicadores de patentes o sencillamente, y de forma más general, análisis de patentes o bibliometría de patentes.
Se considera a la Patentometría como una de las técnicas que componen el grupo de métodos analíticos pertenecientes a la Bibliometría. Aunque se han originado
algunos indicadores específicos para el análisis de los documentos de patentes (indicador de valor comercial, ciclo de vida de un producto, etc.) por lo general, se utilizan adaptaciones de los indicadores aplicados a la producción de otros tipos de documentos.
Los indicadores de patentes y la información que se obtiene en cada uno de esto son:
􀀹 Indicadores de actividad (número de patentes, distribución, países, etcétera)
􀀹 Indicadores relacionales de primera generación (colaboraciones o vínculos entre inventores, empresas, etcétera)
􀀹 Indicadores relacionales de segunda generación (co-ocurrencia de textos, resumen, título, etcétera)
􀀹 Indicadores de tercera generación (clasificación de la información mediante clusters, mapas tecnológicos)
􀀹 Familia de patentes (permite medir el nivel de actividad tecnológica).

Principales resultados del análisis de patentes
􀀹 Identificación de autores, entidades, países y sectores líderes, así como el impacto de estos.
􀀹 Identificación de competidores, posibles socios, etcétera.
􀀹 Evolución de la técnica en el sector.
􀀹 Caracterización de las empresas involucradas en el sector teniendo en cuenta su comportamiento, impacto y el análisis de las citaciones y cocitaciones de estas.
􀀹 Determinación de las principales tendencias tecnológicas.
􀀹 Identificación de señales débiles.

Webliografia

La patentometría en la Inteligencia Empresarial
Patents as a tool for information management and competitive intelligence
Patentes: Proteccion e Información. Interés empresarial
Patent citation analysis: A closer look at the basic input data from patent search reports, JACQUES MICHEL, BERND BETTELS

2 comentarios:

Anónimo dijo...

Seria bueno incluir la fuente de dónde se extrajo lo relacionado con la patentometría.

Lara Rey dijo...

Fuentes en las q me he basado:

Indicadores Tecnológicos de la Región de Murcia: Análisis de Patentes y Modelos de Utilidad. 1994-2004, Fundación Séneca-Agencia de Ciencia y Tecnología de la Región de Murcia, 2006


Patentometria: Herramienta para el análisis de oportunidades tecnológicas. Maria Victoria Guzmán Sánchez. Tesis Doctoral.